Электронная микроскопия структур

Исследования проводили на электронном микроскопе УЭМВ-ЮОК. методом прицельной электронной микроскопии реплик. Исследовали оттененные хромом лаковые и платиноуглеродные реплики, отделенные от локальных участков вторичных структур, выявленных на травленой поверхности шлифов реальных изделий и модельных образцов.

Для электронной фактографии применяли угольные реплики поверхности трения и поверхности разрушения образцов, подвергнутых импульсному нагружению. Фазовый состав частиц изнашивания исследовали методом микродифракции экстракционных реплик поверхности трения. Топографию поверхности трения и частиц изнашивания на различных этапах и после окончания трения изучали на растровом электронном микроскопе РЭМ-200.

Рентгеновская дифрактометрия. Для исследования локальных фазовых и структурных (субструктурных) превращений в экстремальных условиях внешнего воздействия — при трении в вакууме — применяли рентгено-дифрактометрию. На дифрактометре ДРОН-УМ1 в излучении выполнены прецизионные измерения периодов кристаллических решеток вторичных фаз и оценка размеров областей когерентного рассеяния (ОКР), микродеформаций и плотности дислокаций в активном поверхностном слое стали.

Регистрировались число импульсов за определенное время при дискретном перемещении счетчика для исследования профиля интерференционных линий и распределение интенсивностей рассеянного рентгеновского излучения в широком диапазоне углов (от 20 до 100°) для определения фазового состава поверхности трения. При обработке массивов на микро-ЭВМ «Искра 1256» проводилось сглаживание (фильтрация) данных, выделялся фон, определялась интегральная. интенсивность линий и методом Речингера выделялась КП — составляющая.

Поделиться: